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簡(jiǎn)單介紹：
CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊，中華人民共和國(guó)行業(yè)CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊 JB4730-2005，本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測(cè)，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)，也可參照本部分使用
詳情介紹：
CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊
中華人民共和國(guó)行業(yè)CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊 JB4730-2005
本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測(cè)，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)，也可參照本部分使用。標(biāo)準(zhǔn)試塊是指部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)新能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢測(cè)工件相同或近似的材料制成。該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于Φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其*大厚度來(lái)確定。
（1）:CSK-IA是我國(guó)鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)焊縫超聲波探傷JB1152-81標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊，是基于IIW試塊改進(jìn)得到的。
①、臺(tái)階孔?50、?44、?40，便于測(cè)定橫波斜探頭的分辨力；
②、R100、R50階梯圓弧，便于調(diào)整橫波掃描速度和探測(cè)范圍；
③、標(biāo)定的折射角開為K值（K=tgβ），可直接測(cè)出橫波斜探頭的K值。
（2）:CSK-IIA是國(guó)家行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊，CSK-IIA適用于壁厚范圍為8-120mm的焊縫。
（3）CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊適用于壁厚范圍為6-120mm的焊接接頭，CSK-IA和CSK-IVA系列試塊用壁厚范圍大于120-400mm的焊接接頭。
CSK-IB（CSK-IA）試塊及專用翻轉(zhuǎn)架
CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試斜探頭折射角的刻度面。形狀和尺寸如圖2-1所示：
使用要點(diǎn)：
① 利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度；
② 利用Φ50和1.5mm圓孔測(cè)定斜探頭的折射角；
③ 利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭聲束軸線的偏離情況；
④ 利用25mm厚度測(cè)定探傷儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍；
⑤ 利用25mm厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度；
⑥ 利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度；
⑦ 利用φ50、φ44和φ40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。
CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊價(jià)格表
CSK-IA超聲波檢測(cè)試塊 RB-1超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 V-2牛角試塊 IIW2試塊 V1試塊(IIW1)試塊 試塊(超聲波試塊)">DC試塊(超聲波試塊) 試塊(超聲波試塊)">DSC試塊(超聲波試塊) 超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T11345-89">RB-2超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T11345-89 超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T11345-89">RB-3超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 半圓階梯試塊 GB/T18852-2002">HS半圓階梯試塊 曲面對(duì)比試塊(超聲波試塊)">GB/T 6402-1991曲面對(duì)比試塊(超聲波試塊) 試塊(超聲波試塊)">DB-P試塊(超聲波試塊) DB-P試塊 超聲波試塊">DB-H1試塊 DB-H2試塊 標(biāo)準(zhǔn)試塊(超聲波試塊)">CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊(超聲波試塊) 標(biāo)準(zhǔn)試塊(超聲波試塊)">CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊(超聲波試塊) 試塊(超聲波試塊)">CBII-1 CBII-2 CBII-3 CBII-4試塊(超聲波試塊) 試塊(超聲波試塊)">CBII-5 CBII-6試塊(超聲波試塊) 標(biāo)準(zhǔn)試塊(單晶直探頭試塊)">CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊(單晶直探頭試塊) 標(biāo)準(zhǔn)試塊(雙晶直探頭試塊)">CSII-2試塊 CSII-4標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSII-6標(biāo)準(zhǔn)試塊(雙晶直探頭試塊) 超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊">CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
中華人民共和國(guó)行業(yè)CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊 JB4730-2005
本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測(cè)，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)，也可參照本部分使用。標(biāo)準(zhǔn)試塊是指部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)新能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢測(cè)工件相同或近似的材料制成。該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于Φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其*大厚度來(lái)確定。
（1）:CSK-IA是我國(guó)鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)焊縫超聲波探傷JB1152-81標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊，是基于IIW試塊改進(jìn)得到的。
①、臺(tái)階孔?50、?44、?40，便于測(cè)定橫波斜探頭的分辨力；
②、R100、R50階梯圓弧，便于調(diào)整橫波掃描速度和探測(cè)范圍；
③、標(biāo)定的折射角開為K值（K=tgβ），可直接測(cè)出橫波斜探頭的K值。
（2）:CSK-IIA是國(guó)家行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊，CSK-IIA適用于壁厚范圍為8-120mm的焊縫。
（3）CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊適用于壁厚范圍為6-120mm的焊接接頭，CSK-IA和CSK-IVA系列試塊用壁厚范圍大于120-400mm的焊接接頭。
CSK-IB（CSK-IA）試塊及專用翻轉(zhuǎn)架
CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試斜探頭折射角的刻度面。形狀和尺寸如圖2-1所示：
使用要點(diǎn)：
① 利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度；
② 利用Φ50和1.5mm圓孔測(cè)定斜探頭的折射角；
③ 利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭聲束軸線的偏離情況；
④ 利用25mm厚度測(cè)定探傷儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍；
⑤ 利用25mm厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度；
⑥ 利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度；
⑦ 利用φ50、φ44和φ40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。
CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊價(jià)格表
| 試塊價(jià)格表 | ||||
| 名稱/型號(hào) | 單位 | 單價(jià)（元） | 說(shuō)明 | |
| CSK-IA | 塊 | 1600 | 含支架(含使用說(shuō)明書） | |
| 翻轉(zhuǎn)架 | 臺(tái) | 660 | ||
| CSK-IIA | 1# | 塊 | 860 | 含支架 |
| 2# | 塊 | 1800 | 含支架 | |
| 3# | 塊 | 3300 | ||
| CSK-IIIA | 塊 | 960 | ||
| 翻轉(zhuǎn)架 | 臺(tái) | 660 | ||
| CSK-IVA | 1# | 塊 | 6500 | |
| 2# | 塊 | 8600 | ||
| 3# | 塊 | 15000 | ||
| DZ-1 | 塊 | 1800 | 引用JB/T9214標(biāo)準(zhǔn) | |
| DB-P Z20-2 | 塊 | 780 | 引用JB/T9214標(biāo)準(zhǔn) | |
| 階梯平底試塊 | 塊 | 980 | ||
| 板材超聲對(duì)比試塊 | 1# | 塊 | 760 | 適用于板厚20-40mm |
| 2# | 塊 | 850 | 適用于板厚40-60mm | |
| 3# | 塊 | 1600 | 適用于板厚60-100mm | |
| 4# | 塊 | 3200 | 適用于板厚100-150mm含支架 | |
| 5# | 塊 | 4200 | 適用于板厚150-200mm含支架 | |
| 6# | 塊 | 5300 | 適用于板厚200-250mm含支架 | |
| CS-2 1#-6# | 塊 | 540 | ||
| CS-2 7#-12# | 塊 | 650 | ||
| CS-2 13#-18# | 塊 | 780 | ||
| CS-2 19#-24# | 塊 | 960 | ||
| CS-2 25#-30# | 塊 | 1300 | ||
| CS-2 31#-33# | 塊 | 1800 | ||
| CS-3 | 塊 | 1800 | 全套3塊5400元 | |
| CS-4 | 塊 | 580 | 全套14塊8120元 | |
| 螺栓坯件徑向檢測(cè)對(duì)比試塊 R20 | 塊 | 4500 | ||
| 螺栓坯件徑向檢測(cè)對(duì)比試塊 R25 | 塊 | 4500 | ||
| 螺栓坯件徑向檢測(cè)對(duì)比試塊 R32 | 塊 | 4500 | ||
| 螺栓坯件徑向檢測(cè)對(duì)比試塊 R38 | 塊 | 5400 | ||
| 螺栓坯件徑向檢測(cè)對(duì)比試塊 R48 | 塊 | 5400 | ||
| 螺栓坯件徑向檢測(cè)對(duì)比試塊 R60 | 塊 | 5800 | ||
| 螺栓坯件徑向檢測(cè)對(duì)比試塊 R75 | 塊 | 5800 | ||
| 螺栓坯件徑向檢測(cè)對(duì)比試塊 R90 | 塊 | 6800 | ||
| 奧氏體鋼鍛件試塊 | 套 | 58820 | 全套27塊 | |
| 橫向缺陷對(duì)比樣管 | 根 | 980 | 來(lái)料加工 | |
| 縱向缺陷對(duì)比樣管 | 根 | 980 | 來(lái)料加工 | |
| GS試塊 | 塊 | 1300 | 全套4塊5200元 | |
| 超聲測(cè)厚試塊A | 塊 | 780 | ||
| 超聲測(cè)厚試塊B | 塊 | 680 | ||
| 堆焊層側(cè)測(cè)厚用試塊 | 塊 | 2800 | 基板為20#鋼，堆焊層為304不銹鋼 | |
| 基材側(cè)測(cè)厚用試塊 | 塊 | 2800 | 基板為20#鋼，堆焊層為304不銹鋼 | |
| 測(cè)定儀器和探頭組合性能試塊 | 塊 | 560 | ||
| 板材斜探頭檢測(cè)對(duì)比試塊 | 塊 | 按圖報(bào)價(jià) | ||
| 鍛件斜探頭檢測(cè)對(duì)比試塊 | 塊 | 按圖報(bào)價(jià) | ||
| T1型堆焊層試塊 | 塊 | 3800 | 基板為20#鋼，堆焊層為304不銹鋼，基材厚度≤50mm，堆焊層≤20mm | |
| T2型堆焊層試塊 | 塊 | 3800 | ||
| T3型堆焊層試塊 | 塊 | 2800 | ||
| 鋁及鋁合金對(duì)比試塊 | 1# | 塊 | 1600 | |
| 2# | 塊 | 2200 | ||
| 鈦合金對(duì)比試塊 | 1# | 塊 | 4600 | |
| 2# | 塊 | 5600 | ||
| 奧氏體不銹鋼對(duì)接接頭對(duì)比試塊 | 1# | 塊 | 2200 | 材料：304不銹鋼 |
| 2# | 塊 | 3600 | 材料：304不銹鋼 | |
| 3# | 塊 | 4600 | 材料：304不銹鋼 | |
| RB-L | 1# | 塊 | 1600 | ≤φ200管徑，壁厚25mm |
| 2# | 塊 | 2500 | ≤φ200管徑，壁厚60mm | |
| RB-C | 塊 | 1400 | 20mm≤壁厚≤60mm | |
CSK-IA超聲波檢測(cè)試塊 RB-1超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 V-2牛角試塊 IIW2試塊 V1試塊(IIW1)試塊 試塊(超聲波試塊)">DC試塊(超聲波試塊) 試塊(超聲波試塊)">DSC試塊(超聲波試塊) 超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T11345-89">RB-2超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T11345-89 超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T11345-89">RB-3超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 半圓階梯試塊 GB/T18852-2002">HS半圓階梯試塊 曲面對(duì)比試塊(超聲波試塊)">GB/T 6402-1991曲面對(duì)比試塊(超聲波試塊) 試塊(超聲波試塊)">DB-P試塊(超聲波試塊) DB-P試塊 超聲波試塊">DB-H1試塊 DB-H2試塊 標(biāo)準(zhǔn)試塊(超聲波試塊)">CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊(超聲波試塊) 標(biāo)準(zhǔn)試塊(超聲波試塊)">CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊(超聲波試塊) 試塊(超聲波試塊)">CBII-1 CBII-2 CBII-3 CBII-4試塊(超聲波試塊) 試塊(超聲波試塊)">CBII-5 CBII-6試塊(超聲波試塊) 標(biāo)準(zhǔn)試塊(單晶直探頭試塊)">CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊(單晶直探頭試塊) 標(biāo)準(zhǔn)試塊(雙晶直探頭試塊)">CSII-2試塊 CSII-4標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSII-6標(biāo)準(zhǔn)試塊(雙晶直探頭試塊) 超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊">CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊